1  广义的射线照相灵敏度

它是指：底片上显示可识别工件中微小缺陷的能力(程度)。因为工件中的缺陷是自然形成的，也可以把这种灵敏度称为自然缺陷检出灵敏度。追求微小缺陷检出，对焊缝而言，要追求微小裂纹的检出，是射线探伤的重要目的。然而，这种灵敏度是无法掌控、应用的，因为通常而言，探伤前工件中有无缺陷、缺陷形态、大小等，是不预知的，如果预知，还要探伤么？这就带来了一个问题：假如底片上没有显示出缺陷，是工件中根本没有缺陷，还是有缺陷、灵敏度低、没显示出来呢？无法评判。

2 狭义的射线照相灵敏度(像质计灵敏度)

用像质计表示的灵敏度。

a 绝对灵敏度

使用金属丝型像质计时，用丝径(或丝号)表示的像质计灵敏度。我国GB/T3323和4730.2标准均规定使用金属丝型像质计(单丝像质计)，如表2一8所示，丝号从1至19，丝径从3.2至 0.05mm，丝号越大，丝径越小。4730.2标准规定：底片像质计灵敏度值用“应识别丝号(线径)”表示，丝号越大，灵敏度越高。

b 相对灵敏度

使用丝型像质计时，可识别最小金属丝径d_min与工件厚度T的百分比。

K=d_min/T

3 像质计灵敏度和裂纹检出灵敏度的关系

尽管英国射探专家C.G..Pollitt，早在上世纪六十年代就声称找到了二者定量表示的公式，并声称理论计算值与试验解剖值取得了高度一致的结果；但这个理论却在后来其它试验结果面前，不攻自破。因为在像质计灵敏度相同时(如后面表3一4所列试验结果，前4次可发现最小线径均为0.2mm)，但裂纹检出率却不相同。因此，这样总结是正确的：像质计灵敏度和裂纹检出灵敏度没有量的对应关系，只能笼统地说，像质计灵敏度越高，裂纹检出灵敏度也越高。

一张质量合格的底片(像质计灵敏度值合格、黑度范围合格)不等于缺陷不会漏检。其原因是：

1)射线方法本身的缺陷，它的像质计(绝对)灵敏度值随工件厚度T增大而变小。例如4730.2标准规定：AB级，T=4mm时，应识别丝号为15(丝径0.125mm)；T=40mm时，应识别丝号为9(丝径为0.5mm)。T从4至40mm，应识别丝号漏了6个，那么漏掉微小缺陷怎么不可能呢？

2)像质计放在工件上，造成的结构差异，是规则的，即厚薄均匀、走向确定的，而且这些人为缺陷基本上应属于体积型缺陷(三向尺寸相近，或截面尺寸相等的缺陷)。例如金属丝型像质计，对射线的方向性不敏感，从不同方向上得到的ΔT均近似为丝径d。而裂纹类面状(长和深尺寸大，通常宽度W＜50μm)缺陷却可能是千奇百怪的，单说它的宽度(垂直于它的长度、沿工件厚度剖下得到的断裂面缝隙)W，就不是两个平整平行的平面间距(缝隙)，往往呈锯齿形小曲折，浅的裂纹截面总体上看近似个三角形。所以，裂纹检出灵敏度和金属丝像质计灵敏度、甚至线槽像质计的对应性甚小，后者基本上仅反映了射线照相对比度对像质的影响，这个问题后面还要讨论。

一张像质计灵敏度、黑度范围等指标合格、也并未显示出缺陷的底片，其探伤报告的结论只能是：“没有发现缺陷”；而不能是：“没有缺陷”，因为漏检的可能性是存在的。

4 标准还必须提出些技术要求

由于上述原因，为了提高微小裂纹类缺陷的检出率，各国标准除了规定底片像质计灵敏度数值和底片黑度范围外，还分级提出了些技术要求。JB4730.2标准分A、AB、B三个技术等级，提出了技术要求。这些技术术要求大部分与射线照相灵敏度三要素(对比度、不清晰度、颗粒度)有关。三要素的存在是客观的，如果再加上人眼最小可见对比度ΔDmin，可以称为“四度”，

我们要讨论是四要素(简称四度，四个重要方面)。