DPA分析|DPA分析实验室|GRGT实验室
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破坏性物理分析dpa分析 |
分类: 破坏性物理分析 |
DPA(破坏性物理分析)在广电计量(GRGT)进行,涉及航空航天,商业,军事和政府应用中使用的“高可靠性”电子元件和材料。
电子元件的寿命遵循可预测的趋势。 大量组件在很小的时候就过早失效(“婴儿死亡率”)。 婴儿死亡率问题可以通过在制造过程中实施严格的质量控制来解决。 金属化,玻璃化分析,彻底的精密检查,电老化和DPA程序的SEM检查将识别各自的问题。
一旦经过这个初始失效阶段,它们通常会以很低的失败概率执行很长一段时间。
DPA通常被航空航天工业用于将电子元件鉴定为“S”级。 越来越多的商业应用正在使用DPA筛选来显着提高其产品在现场的可靠性。 较高可靠性的电子元件通常需要长时间工作,几乎没有或没有更换的机会。 轨道卫星就是这种情况的好例子。 符合“空间使用”要求的零件也用于难以更换和/或失效的应用中。
GRGT广电计量多年来一直在航空航天,商业,军事和政府应用中使用材料进行超过40的破坏性物理分析(DPA)。
我们有多年的DPA测试经验(GRGT广电计量)。
有关DPA测试的更多信息,请联系Alston:
GRGT实验室通过DPA分析检查的零件类型:
- 集成电路
- 晶体管
- 发光二极管
- 电容器
- 电阻器
- 继电器
- 保险丝
- 温度传感器
- 过滤器,水晶
- 变压器,电感器,线圈
- 射频设备,微波元件
- 连接器,开关
- 含有多种成分的杂交种

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