1.BCI的分类及测试频段？

一般BCI的测试频段为1-400MHz，会在CW和AM两种调制方式下进行测试。

按照测试方法分可以分为两类：

a.替代法（不强制要求在50mm处有电流测量探头）：共模BCI（CBCI）；差模BCI（DBCI）

b.闭环法（必须在50mm处有电流测量探头，在电流达到限制或功率达到限制都可）

2.影响BCI结果的原因？

真正流过的电流由电流注入处装置的共模阻抗决定，而在低频下这几乎完全由EUT和电缆装置另一端所连接的相关设备对地的阻抗决定。

一旦电缆长度达到1/4波长，阻抗的变化变得十分重要，他可能降低测试的可重复性（即复现率）。

在200MHz以下测试的重复性很好，200MHz以上测试结果重复性相对差一些，测试结果对探头的位置十分敏感。BCI的频率上限为400MHz的原因是：更高频率的电流注入时，其波长将小于被测线束的长度，因而会在线束上产生驻波，从而影响测试的可重复性。

3.BCI的基本原理？

通过电磁感应耦合的方式，在被测线束中产生骚扰电流，从而验证DUT对感生电流的抗扰能力。

4.替代法的试验步骤？

a.测试前在校准夹具验证电流注入探头所产生的骚扰电流达到要求

b.将电流探头钳于待测线束的指定位置，以校准得到的前向功率为准，对DUT施加干扰。

由于测试过程中并不监控注入电流强度，亦不再调整前向功率。因此，线束的长度、电流注入探头与DUT的相对距离都会影响骚扰电磁场在被测线束上的耦合程度。

由于校准钳是以50Ω为基准进行功率校准的，所以在测试中，加载的电流实际上为50Ω条件下的功率值，不一定是实际在线束上干扰的电流。

5.有些标准要求替代法BCI线束为2m，有些要求1m，考察点是什么？

在ISO11452-2011中将原来的05版的1m，更改为2m，并规定待测线束至少有1400mm是沿直线布置的。如此变化的目的是使测试布置更接近于实际安装情况，并使骚扰信号得到最大程度的耦合，以有效地验证DUT的抗扰能力。

6.闭环法的试验步骤？

a.通过监控的电流探头，可以确定线束中注入的干扰电流值达到了严酷等级要求。

b.BCI测试系统的输出功率不断增加，但通过监控电流探头可知，注入到被测线束的干扰电流值仍达不到严酷等级要求，则当系统输出功率达到预先定义的最大值，即满足等级要求并以此功率施加干扰。即达到额定电流或额定功率。

因此待测线束长度对注入电流的耦合程度的影响就相对较小。

7.ISO 11452-04_2011版本中针对BCI加入了TWC的测试方法，该方法适用范围及考察点是什么？

TWC方法主要目的是验证待测样品对400MHz以上频率范围的抗电磁骚扰能力，特别是对频率高达1GHz以上的范围，如使用到GSM,UMTS,ISM等信号的产品。测试频率范围400MHz-3GHz。

由于频率3GHz的波长为10cm，在实际中，DUT长度若小于10cm，或者已有完全屏蔽外壳的，高频的干扰信号主要是通过其线束耦合，TWC方法最适合用于这种DUT的测试。对于长度大于0.1m且没有完整屏蔽体的DUT，高频干扰信号可直接耦合到PCB板的可能性大大增加，则需考虑TWC方法是否适合。

8.试验时间？

如果驻留时间为2s，则每一种调制方式（CW/AM）时间大概在30min。