德律科技成立于1989年，总公司位于台北，为台湾上市公司。德律泰电子（深圳）有限公司为大陆总公司，另外在上海、苏州、天津，以及新加坡、美国设有分公司。在珠三角的东莞、广州、中山、顺德设有服务据点。代理商遍布全球，如：英国、加拿大、德国、巴西、印度、泰国、马来西亚、韩国、日本等。

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    德律科技不断研发新产品，以适应电子产品的不断发展，和公司的永续经营发展，是一家业绩不断攀升、充满活力的公司。

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台湾德律科技的产品有：

一、ICT（静态在线测试仪）：TR518系列；

二、ATE（全方位电路板测试仪）：TR5000系列； TR8000系列 ；

三、AOI（自动光学测试仪）、TR7006锡膏检查机；TR7100系列；

四、IC TESTER（半导体测试仪）：TR6000系列。

    2006年即将推出X-RAY射线检查设备。　

    目前是台湾市场占有率第一的ICT测试厂牌；并且是第一家取得惠普公司授权使用Agilent TestJet Technology ；亚洲第一家获得ISO 9001认证之ICT自动测试厂家 ；首获台湾精品奖的ICT自动测试厂家 ；全台湾第一家成功进入日本市场的自动测试厂家 ； 全台湾首家开发体积最小/价格功能比最高之IC半导体测试； 目前国内绝大多数知名厂商均采用德律泰电子TR-518系列ICT作为提高产品品质的有效手段，资讯大厂如宏基、华硕、技嘉、大众、富士康（代工INTEL、DELL）、长城、菲利浦、七喜、神舟、飞利浦、等；台资及电源企业如精成、源兴、金宝、雅新、台达、顺达、福葵、高效、飞宏、达宏、新英德、华亿、天隆、上展、讯宝、爱克美、立德、康舒、长城、铭谷、辉力、福毅、协发，上展、驰源、腾讯、耀进、太格、东聚、斯米克、仲汉、普来瑞、上焱、富港、华容、艾克贝尔等，港资企业如爱高、WKK、金佳、新利、成丰、环宇等，日资企业如：爱普生、理光、兄弟、新赛斯、松下、卡西欧、友利电等；国内大厂如：美的、TCL 、华凌、海尔、科龙、灿坤、创维、康佳、冠捷、新科、飞毛腿、夏新、实益达等，目前已经有30多个国家的公司采用德律的ICT。 现在德律科技之TR518系列已成为装机率最高的ICT品牌。德律泰电子在注重产品品质方面的同时，对产品的售后服务投入也是相当大，在深圳有德律泰深圳公司，并在东莞、广州、中山、顺德、惠州均设有服务据点，大大方便了与客户联系沟通及服务，真心真意为客户着想，力求更快、更好地为客户解决生产中遇到的各种问题.

台湾自動光學檢測機 (AOI)德律检测设备中国区一级总代理商：

 

     中国区chinatechwin华技达电子科技有限公司是韩国三星泰科SMT设备的中国区总代理,主营三星贴片机和SMT光學測試設備。

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自動光學檢測機 (台湾德律AOI)型号：
TR7700 SIII 3D
TR7500 SIII 3D
TR7700 SIII DT
TR7500 SIII
TR7700 SIII
TR7730
TR7700 SII
TR7700 SII DT
TR7500 SII
TR7500
TR7550 SII
TR7550
TR7500DT
TR7502DT

 

SMT质量的源头，来自于如何改善锡膏印刷质量，TR7006 3D锡膏检测机，可快速量测每一锡点的面积、体积、高度及检测短路。针对轻薄短小的产品，可避免因锡点小，锡少或产品使用时振动、热涨冷缩造成接触不良，有效提高产品质量；也可在制程初期筛选出锡膏印刷不良产品，一方面实时提供信息供印刷机修改参数，一方面避免不良产品在生产在线继续加工，有效提高产能及减少生产、维修成本。

TR7700 SIII DT是一台高性能的離線型AOI解決方案，擁有最高精度和易用性等優點。使用TRI獨有的多相位光源和新一代的檢測軟件，TR7700 SIII DT具備快速和簡易編程等優良的缺陷檢測功能，非常適合變化度高生產線。
專為高準確性爐前檢測設計，TR7700 SII DT為一高效能離線型AOI解決方案，搭配4 MP彩色相機，檢測速度可達15 µm: 120 cm²/sec 。此系統結合高彈性RGB+W光源設定系統，並有低角度光源及動態取像技術，可提供極性與黑元件更好的檢測，並且可針對無鉛或傳統組裝電路板之微小元件01005提供更精準穩定的檢測能力。

離線型AOI特性：

 • 為爐前/爐後檢測之精度高離線型AOI解決方案
 • 快速、易編程且符合IPC標準規範
 • 先進的演算法和多相位光源將誤判降至最低

离线AOI规格：

• 相機類型		高感光4 Mpx 高速彩色攝影機
• 光學解析度		10 µm 或 15 µm
• 取像方式		高速動態取像
• 檢測速度		60 cm2/sec @ 10 µm
		120 cm2/sec @ 15 µm
• 檢測功能
。元件器缺陷		缺件、立碑、側立、極反、旋轉、位移、錯件(OCV)、損件、反件、翹件、多件
。錫點缺陷		錫多、錫少、橋接、DIP類元件吃錫、翹腳、金手指表面刮傷/粘錫
• 爐前 / 爐後整合		良率管理系統, 統計編程管制系統
• 外型尺寸
。電路板最大尺寸		330 x 250 mm (TR7700 SIII DT)
		510 x 460 mm (TR7700L SIII DT)
。電路板最大厚度		3 mm
。電路板最大重量		3 kg
。零件高度限制		上端: 25 mm, 邊緣: 3 mm
		底端: 100 mm (TR7700 SIII DT), 50 mm (TR7700L SIII DT)

以动态取像方式检测，具备高检测速度的在线AOI系统
线性马达搭配光学尺，高精度高稳定度的滑台移动控制系统
上视加上四角度之多角度摄影机系统，及优异的检测运算技术，提供超高检出

能力及增强缺陷测试涵盖率
极佳的无铅及微形片式组件(Fine Pitch/01005)检测能力
高分辨率3CCD彩色摄影机
RGB LED彩色灯盘，多重角度光源调整系统
ATPG流程引导使用者快速简易完成程序制作
模块化的机体设计，增加维修及保养的便利性
搭配维修站系统，以人性化的图形接口有效帮助人员进行缺点的覆判，亦提供

统计制程管制(SPC)之计算及报表输出
与YMS连结可进行生产线数据整合分析

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TRI頂尖的在線型AOI解決方案，提供超高速五支相機鏡頭的組裝電路板檢測，具有可靠的缺陷檢測功能，即使是最複雜的焊點以及組裝缺陷皆能檢出。TR7500 SIII搭載智能化軟件與高性能硬體的強大組合，提供可靠且易於使用的AOI解決方案，更致力高精度檢出並將誤判降到最低，幫助優化您的生產產量。

规格：

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取像方式		1支4 Mpx 上視彩色相機+4支低視角彩色相機
• 3D雷射感測		高解析度與高量測範圍(選配)
• 光學解析度		10 µm or 15 µm
• 取向方式		高速動態取向(可選配搭載真實3D輪廓量測)
• 檢測速度		3D	2D+3D(選配)
15 µm		60 cm2/sec @ 10 µm	40 - 60 x A cm2/sec
10 µm		120 cm2/sec @ 15 µm	27 - 39 x A cm2/sec
*依可測板尺寸變化
• 檢測功能
。元器件缺陷		缺件、立碑、側立、極反、旋轉、位移、錯件(OCV)、損件、反件、翹件、多件
。錫點缺陷		錫多、錫少、橋接、DIP類元件吃錫、翹腳、金手指表面刮傷/粘錫
• 爐前/爐後整合		良率管理系統

TR7700 SIII為TRI最新型的AOI，提供精準的高速多相位檢測。結合超快速相機，智能型自動輸送帶及新人機介面，TR7700 SIII提供功能強大且操作簡易之AOI解決方案，包括快速編程，最佳進板方式，生產線整合與可支援離線編程系統。TRI新演算法提供空間色彩分析，並結合多相位光源可提升檢測涵蓋率，且提高檢測效能，減少誤判。

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TR7500自動光學檢測機 (AOI)

上視加上四角度之 3CCD相機系統，TR7500 在线AOI自動光學檢測機提供性價比高且測試涵蓋率高的在線型檢測方案。此系統適於檢測解析度範圍25µm到10 µm之間，使用TRI的動態取像技術，能避免如走停式取像所產生的震動，適合於爐前與爐後檢測使用。TR7500有多區域的RGB+W光源系統，配合低角度的光源，可提供極性及黑元件更好的檢測，並且可針對無鉛和傳統組裝電路板上的微小元件01005及提供更精準穩定的檢測能力。

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台面式AOI设备：

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搭載一個上視3CCD彩色相機，TR7500 DT離線型AOI擁有動態取像技術，適用於爐前/爐後的離線檢測。搭配彈性度高的RGB+W光源及同軸光系統，配合低角度光源，可提供極性及黑元件更好的檢測，並且可針對無鉛及傳統組裝電路板的微小元件01005提供更精準穩定的檢測能力。 高速離線型彩色AOI檢測方案  • 精準的3-CCD彩色相機可檢測01005微小元件  • 快速簡易的程式製作 相機類型 上視型 3-CCD XGA 彩色攝影機  • 光學解析度 10 µm, 15 µm 或20 µm  • 取像方式 Dynamic Imaging  • 檢測速度 18 cm2/sec @ 10 µm 40 cm2/sec @ 15 µm 72 cm2/sec @ 20 µm  • 檢測功能 。元件器缺陷 缺件、立碑、側立、極反、偏移、錯件、反件、損件 。焊點缺陷 多錫、少錫、橋接、DIP類元件吃錫、IC翹腳、金手指表面刮傷黏錫缺損  • 爐前 / 爐後整合 良率管理系統  • 電路板尺寸 。電路板可測最大尺寸 TR7500DT       330 x 250 mm TR7500DTL     510 x 460 mm 。電路板可測最大厚度 3 mm

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内容出处：http://blog.sina.com.cn/jtaismt

文章来源：

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