碳酸盐岩地层气层电性特征

 碳酸盐岩与碎屑岩气层电性特明显不同。碳酸盐岩地层气层典性特征如下： 

1、井径:由于碳酸盐岩地层不易跨塌,气层井径一般比较规则. 

2、自然伽马、自然电位：由于碳酸盐岩铀、钍、钾的含量比较低,气层的自然伽马一般比较低,但有的气层自然伽马比围岩略高。自然电位曲线无明显异常。

3、电阻率：碳酸盐岩电阻率非常高,当其储层发育时,由于其中含有地层水,致使碳酸盐岩储层电阻率比围岩低。当天然气发生运移进入碳酸盐岩储层发育段时,虽将大部分地层水排出,但仍有部分地层水滞留其中,从而导致碳酸盐岩储层发育段含气时,电阻率仍比围岩低。碎屑岩气层一般电阻率比围岩高。这是碳酸盐岩与碎屑岩气层的最大区别. 碳酸盐岩气层的深、浅侧向电阻率出现正的幅度差,即深侧向电阻率大于浅侧向电阻率。这是由于浅侧向探测得是泥浆侵入带电阻率,电阻率相对较低;而深侧向探测得是原状地层电阻率,电阻率相对较高造成的。

4、岩性密度:碳酸盐岩储层的岩性密度比围岩低,如果其中含气会使岩性密度进一步降低。碳酸盐岩储集层岩性密度的高低,取决于储集层的发育程度及所含流体的性质。碳酸盐岩储层含气比含水时的岩性密度低。这是因为相同体积的地层水和气比较,气层的岩性密度低于地层水。比如普光2井气层围岩的岩性密度为 2.65～2.70g/cm3,而气层的岩性密度为2.2～2.6g/cm3. 

5、补偿中子：碳酸盐岩储集层不发育时,地层流体含量低,因此补偿中子值比较低,而当储层发育时流体含量比较高,补偿中子值也就比较高。所以,当碳酸盐岩储层发育时,由于流体含量比较高,补偿中子值比围岩高。标准气层比水层的补偿中子值低。这是因为相同体积的地层水与气层相比,地层水中氢的含量比气层中氢的含量低。这是区别碳酸盐岩储层水层与气层的一个重要依据. 

6、 声波：当碳酸盐岩储层不发育时声波时差比较小,而储层发育时声波时差大，气层比水层的声波时差大。标准气层宜发生周波跳跃，如普光2井5027～5103米则发生了周波跳跃,但大部分气层并不发生周波跳跃. 

  由于碳酸盐岩地层电性特征的特殊性,电测解释时若无气测资料确定储层是否为气层比较困难.因此,碳酸盐岩储层能否解释为气层,关键是看是否有气测异常,否则只能解释储层发育段。