加载中…表面绝缘电阻（SIR）测试
(2021-06-07 23:13:02)
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表面绝缘电阻sir测试表面绝缘电阻（sir） |
分类： SIR测试 |
什么是SIR测试：
表面绝缘电阻（SIR）测试是一种标准的工业方法。它用来评估在经受腐蚀和与离子污染物相伴产生的一些作用后，板拼装件的潜在问题。这些故障或许由资料交互作用、不充分的进程控制或低劣的资料性能引起。SIR典型地运用于温度升高和湿度级。这儿的电阻定义为两个电导体之间的电阻。薄层电阻、体传导性和电解污染物走漏都是影响绝缘电阻的要素。
表面绝缘电阻（SIR）测试相关标准：
ANSI/J-STD 001-006
• IPC-TM 650
• IPC-SM 840
• IPC-S-815 CL III
• MIL-F-14256D
• BELLCORE
TR-NWT-000078
• ASTM D-257
• HP EL-EL861-00
表面绝缘电阻（SIR）测试目的
•变动电路板设计或布局
•更改清洁材料或工艺
•变更助焊剂和/或锡膏
•变更回流焊或波峰焊工艺
•使用新色敷形涂料或工艺
•考核裸板供应商资质
•基于可靠性的产品标定
表面绝缘电阻（SIR）测试对象
助焊剂 清洗剂 锡膏 锡渣还原剂
PCB软板
哪里能做表面绝缘电阻（SIR）测试
实验室业务范围：
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aecq认证
|
元器件筛选 |
第三代半导体测试 |
破坏性物理分析（DPA） |
|
aecq100 |
一次筛选 |
AQG324认证 |
电镜观察SEM/EDX |
|
aecq101 |
二次筛选 |
IGBT动态参数测试 |
超声波检查C-SAM |
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aecq102 |
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IGBT静态测试测试 |
剪切强度测试 |
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aecq100 |
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IGBT其他测试 |
SIR |
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aecq104 |
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离子色谱/离子污染度 |
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