最新DDR 信号分析方法
标签:
眼图抖动ddrjedec规范 |
分类: 测试 |
现代示波器上的DDR 物理层信号分析方案,都是针对JEDEC
规范的一致性测试。在这种方案中,分析软件会按照JEDEC 规范分析DDR 信号的各种参数,并判断测试结果Pass
或者Fail,最终生成一份报告。但是很多的研发工程师,并不想仅仅获得一个Pass 或者Fail
的结果,而是想对信号做调试分析,但是传统的串行信号分析软件无法分析DDR 信号,为此,力科推出了新的DDR
Debug
toolkit。
一,新的DDR
信号分析方法
力科DDR Debug toolkit 提供了一种简单易用的DDR
信号调试工具,它快速的对数据做读写分离,形成读写眼图,对眼图进行模板测试和参数测试,对抖动进行分解,定位问题的根源,对比较重要DDR
参数进行测量,像建立时间、保持时间、TDQSCK 等灵活设置参数,对DDR
信号问题进行调试,可以支持DDR2/DDR3/DDR4/LPDDR2/LPDDR3 等。
二,眼图测量
可以同时产生和显示10 个眼图,对5 路DDR
信号进行分析,查看分析眼间的Skew 和时间信息,可以选择DQS 或者Clock 作为时间参考,自定眼图模板,Teledyne
Lecroy进行眼图模板测试。
三,测量多个眼图参数:
Eye Height
Eye Width
Eye Crossing
Mask Hits
Mask Out
Eye Amplitude
One Level
Zero Level
四,抖动测试
像传统的串行信号分析一样,对DDR
信号的抖动进行测量分析,对抖动进行分解(Tj,Rj,Dj,DCD 等),从TIE Track、TIE
Histogram、Bathbub Curve 观察分析抖动,更加深入的了解抖动的分布和源头。
五,DDR
参数测量
对比较关键的DDR 参数进行测量,可以同时测量12
个参数,包括Max、Min,
Mean 等统计值。
Bursts, transitions,
Vref
VH(ac), VH(dc), VL(ac),
VL(dc)
tDS, tDH, tIS, tIH
tDQSQ, tDQSCK
Slew Rise, Slew Fall
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