AEC-Q认证的目的是针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立车载电子部件的可靠性及认定标准规格化质量控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。

AEC-Q用于验证元器件能否达到AEC的要求，是非强制性的认证。

AEC-Q的要求非常严格，只有通过相对应的标准规定的全部测试项目，供应商才能声称该产品通过了相应的AEC-Q认证；符合这些规格的组件适用于恶劣的汽车环境，无需额外的组件级鉴定测试。

AEC-Q目前已成为公认的车规元器件的通用测试标准。

主机厂和一级供应商：使用通过AEC-Q认证的电子元器件风险小，优选；

电子元器件供应商：通过AEC-Q认证，提高产品竞争力及溢价率。

对于芯片的测试标准是Aec-q100，认证规范主要有：

AEC-Q100 Rev-G base:集成电路的应力测试标准（不包含测试方法）

AEC-Q100-001邦线切应力测试

AEC-Q100-002人体模式静电放电测试

AEC-Q100-003机械模式静电放电测试

AEC-Q100-004集成电路闩锁效应测试

AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试

AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试

AEC-Q100-007故障仿真和测试等级

AEC-Q100-008早期寿命失效率（ELFR）

AEC-Q100-009电分配的评估

AEC-Q100-010锡球剪切测试

AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试

AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

下图是Aec-q100的测试流程图

AEC-Q100详细规定了一系列的测试，同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组：

测试群组A(环境压力加速测试，Accelerated Environment Stress)

测试群组B(使用寿命模拟测试，Accelerated Lifetime Simulation)

测试群组C(封装组装整合测试，Package Assembly Integrity)

测试群组D(芯片晶圆可靠度测试，Die Fabrication Reliability)

测试群组E(电气特性确认测试，Electrical Verification)

测试群组F(瑕疵筛选监控测试，Defect Screening)

测试群组G(封装凹陷整合测试，Cavity Package Integrity)

有想了解更多关于芯片检测Aecq认证问题可以访问华碧实验室官网或播打电话咨询。