AEC-Q100、AEC-Q101和AEC-Q200这三个标准是最早制订的、也最常被引用的AEC-Q标准。AEC-Q也并非一成不变，随着车辆越来越智能化自动化，标准也在同步更新。

   AEC-Q100是基于失效机制的集成电路应力测试认证标准，华碧实验室拥有丰富的车规级电子验证经验，帮助客户预防产品可能发生的各种状况或潜在的故障状态，引导零部件供货商在开发的过程中就能采用符合该规范的芯片。通过AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格的质量与可靠度确认，确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功能说明等是否符合最初需求的功能，以及在连续使用后各功能与性能是否能始终如一。

AEC-Q101是基于失效分析机制的分立半导体应力测试认证标准，华碧实验室拥有15年的汽车电子工业服务经验，曾协助多家汽车分立半导体企业制定相对应的AEC-Q101验证步骤与实验方法，帮助分立器件厂商顺利进入车厂供应链，最短时间内帮助器件制造商与采购商之间达成一致，推动产品品质的提高和可交换性。

AEC-Q102是基于失效机制的车用分立光电半导体应力测试认证标准，华碧实验室致力于LED上中下游产品提供创新的品质解决方案，通过AEC-Q102协助LED厂商找出实验过程中因设计的不良，而导致失效的原因，同时提供专业的元件、模块到LED灯具完整的分析服务，帮助LED厂商快速的找回失效问题点，并提供解决方案。

AEC-Q103是基于失效分析机理的车用传感器应力测试认证标准，华碧实验室拥有资深的技术团队与丰富的设备资源，为数十家MEMS厂商提供了质量测试服务，凭借与时俱进的实验分析方法与深耕MEMS行业的经验，让产品能活的更多的认可。

AEC-Q104是基于失效机制的车用多芯片组件(MCM)应力测试认证标准，MCM多芯片模组规范解决了困扰IC设计厂商与Tiger1汽车模块商蒸汽MCM、系统构装、堆叠封装等复杂的多芯片形态应该依循IC，还是改进设计和制造工艺的建议，来消除失效并防止失效的再次发生，提高MCM产品的可靠性。  

AEC-Q200是被动元件的应力测试认证标准，标准全称：Stress Test Qualification For Passive Components，现在的Rev D版本是2010年的，距今已经十几年了。

如有AEC-Q检测认证需求，可以访问华碧实验室官网或者拨打电话咨询。