浅论汝窑汝瓷的硅化现象：

   陶瓷专家毛小沪先生曾讲到汝瓷鉴定中的特有现象——硅化线，亦既在汝瓷的胎釉交界处，有一条非常细的白线。这是汝瓷真品所特有，而仿品很少。

   《棱技书》2002年第10期，刊登中科院，郑州大学朱剑等署名文章《汝瓷成分线性扫描分折》。他们采用SR乘SF技术对汝瓷断面从釉到胎进行十一和元素含量分折：结果表明在其胎釉之间确实存在一个元素含量与二者相差很大的中间层。他们认为：是汝瓷在烧制过程中，瓷釉在形成玻璃状的的同时渗入到瓷胎表面形成的。这个中间层在实体光学镜上能明显看到，而在偏光显微镜和扫描线镜下看不到。

   这一科学研究成果，实证了汝瓷硅化现象的存在。而且在光学镜上能够看到。

利用手中的瓷器物，在150倍的放大镜下，确实能够清晰地从裂纹中看到那条细细的白线。同时，其白线的周围，土渍不是很明显，其冰裂纹的汽泡，尚且存在。

从以上理和实物观察上可以看出，汝瓷的硅化现象，在目测和科研上是一致的，固而它对汝瓷的鉴定有着较为重要的性质。当然，它不是唯一的，还须参照其它汝瓷的特点，综合分折，才能得出较为正确的鉴定结论。