如何用薄膜干涉法判定平面的凹凸

------一篇所看到的最为容易理解的文字描述

在《数理化学习》（高中版）2008年08期上，看到过一篇文章“如何用薄膜干涉法判定平面的凹凸”。虽然有些概念是不准确的，但是，如何分析的“技巧”却表达的很完美。当然，也需要阅读者还保留有一些基本的基础概念。

1998年的第九期《物理通报》上有一篇文章，“怎样用薄膜干涉法检查平面的凹凸”，也表达了同样的分析方法。不过，略显粗糙。高中课本教学中的问题，实际上，也是大学《普通物理》教材中存在的问题。至少，我学习的时候的程守洙的《普通物理学》中的内容就是如此[1]。

分析中的要点是：

[1]  空气劈尖的“棱边”在什么位置；

[2]  是否清楚空气层厚度变化的趋势：垂直于棱边方向上，远离棱边，空气层厚度增加。

[3]  位于同一条干涉条纹上的平面位置所对应的空气层厚度是一致的，也就是“等厚”。

[4]  涉及到具体的干涉显微镜，还需要理解“虚光楔”[2]的概念。

所以，分析的时候，从一个条纹的一侧向另一侧推移，当遇到凹陷时，造成空气厚度过大，干涉条纹出现弯折；而弯折的时候，只有朝向劈尖的棱边才是寻求“等厚空气层”的正确方向。逆向棱边只会“偏差”更大；所以，弯折的方向是朝向棱边。如果碰到“凸起”，分析的效果正好相反。

参考资料：

[1]  http://blog.sina.com.cn/s/blog_674374ae0100kzlv.html  0102-如何认识金相分析中的薄膜干涉技术应用

[2]  周佩瑶的《用干涉显微镜测量薄膜厚度的分析》一文中的“虚光楔”示意图，个人认为不准确。应当是由两个棱边共用的等效虚光楔组成；只有这样，干涉条纹才可能由中央向两侧对应展开。另外，“虚光楔”的概念，好像极少有人采用。

[3]  http://www.hi1718.com/company/3566/products/201141285834472.html  6JA干涉显微镜，价 格：15800.00；上海永亨