你把谱图指标化就可以知道峰所对应的晶面了。也就是说可以判断是（111）、（100）等晶面。如果是已知结构样品的话，就XRD谱仪自己带的软件就可以，如果太老，就只好每个主峰通过那个公式计算得到了。如果是未知样品，要通过精修来得到，不过耗时高一些。精修后的谱峰会自动标上指标化结果。

    如果是单晶，那么通过双晶摇摆曲线测量可以说晶体表面取向是（xxx），如果是多晶衍射，谱图中出现的每一个峰都对应着某一个晶面（面间距为d），2dsinθ=nλ，据d可以找出此峰对应的面指数。

     双晶摇摆曲线测量，国家有色金属及电子材料分析测试中心，针对单晶基片及其完美性分析或点阵失配外延层薄膜（晶体完整性和异质外延结构），通过高分辨X射线衍射测量（X射线双晶衍射摇摆曲线）提供微结构、微成分和微缺陷等方面的大量信息。