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扫描电子显微镜 能谱仪EDS 轻元素分析

(2010-09-17 20:23:23)
标签:

谱峰

x射线

轻元素

探测器

俄歇电子

    前几天,一位博友打电话咨询能谱仪(EDS)检测轻元素时,分析结果不准的原因,当时也没说清楚,就查询了下资料,写在这里,以供大家参考。

    轻元素通常指原子序数小于钠的那些元素,无论用波谱仪器还是能谱仪进行分析,都面临着相同的问题,影响分析结果的准确性。

    1、轻元素的特征X射线产额低。在采集谱时,计数不足,谱峰较低,谱峰形状不规则。

    2、轻元素的特征X射线能量低。在样品基体内容易被吸收,产生大量的俄歇电子;而从表层出射的X射线在探测器窗口又受到吸收,定量分析要做较大的吸收校正,带来误差。

    3、探测器效率。Si(Li)探测器较宽,接受能量在1.5KeV~15KeV范围的X射线,效率接近100%,然而在小于1.5KeV的低能端探测器效率明显下降,这主要是探测器前面的窗口对低能X射线的严重吸收所致,在大于15KeV的高能端由于高能X射线可能完全穿透硅晶体跑出去,使探测器效率也下降。Be窗口厚度约为8微米,低能X射线如Na仅有60%通过窗口,而氧仅有1%可以通过。为了检测B、C、N、O、F等超轻元素,现在广为使用超薄窗口探测器,利用超薄膜塑料代替Be窗,厚度小于1微米,结构简单,使用方便。

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