日本正式开始限制中国23种半导体,对应替代公司如下

分类: 看盘日记 |

1)、光刻机: 分辨率(CD值) 小于45nm设备; (关注:
2)、涂胶显影: 用于EUV工艺设备; (关注:
3)、刻蚀设备:各向同性刻蚀材料选择比大于100;各向异性刻蚀电路间隔小于100nm及深宽比大于30,并对静定卡盘、阀体、射频电源等部件核心参数做出严格规范;
(关注:
4)、薄膜设备:
特定温度、压力、等离子体以及栅极宽度条件下PVD/CVD/ALD/电镀设备铜/钨/钻//组以及金属化合物、成膜层和阻挡层等薄膜沉积工艺;
(关注:
5)、热处理设备: 铜/钻/W等填料金属回流工艺; (关注:
6)、清洗设备:晶片改性后进行干燥工序等部分单片湿法清洗设备;
(关注:
7)、检量测设备: EUV工艺制造的掩膜或环料装置,(关注: 中科飞测,精测电子)
8)、EPI设备: 核心Si/GeSi外延工艺; (关注:
9)、其他材料: EUV用掩膜材料及组件,暂不涉及耗材端;(关注: