起非球面的加工，首先要考虑的是如何进行非球面检测，而非球面的检测之所以成为问题，本质上讲，是其波前及其理想成像点不易获得。

通常用k值及高次项系数表示，从下图可以看到，K的绝对值越大，则偏离球面越远。

笔者曾进行K值为7.7的椭球面加工，结果表明检测元件的加工还是非常严格的，即难度较大。

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1.    零检测法主要包括：传统零检测法(Conventioanl null test)，全息法(Holographic Null test)，计算全息法（Computer generated holograms）。

2.    非零检测法的内容较多，包括：切向剪切干涉法（Lateral Shear Interferometry），径向剪切干涉法，高分辨率探测器法（Hight density detector，亚耐奎斯特干涉法（Sub Nyquist interferometry）, 长波干涉仪（Long wavelength holography），双波长干涉仪（Two wavelength interferometry），莫尔条纹法（Moire interferometry）,哈特曼干涉仪（hartmann-shack aberrometry）。

以下对这些方法进行些概述，由于内容较多，进行与原理图描述，如有进一步需要，请参照关键词进行检索。  

 

 

 

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上图对不同类型的二次非球面进行检测，这些方法是比较简单实用，但仍需灵活处理，比如相对孔径较大或者存在中心遮拦时。更为重要的是当非球面（even aphere）存在高次项时，则上述方法就不能应用。

 

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这时采用上图所示的offner补偿法就更为实用，他的公差配合较为合理，能够达到较高的精度（PV>1/5波长）。

 

 

，还需要更新颖的解决方案，即计算全息法，本质思想是利用全息概念产生在线被捡面。由美国人首先提出，根据计算产生所需的全息图，在实验中利用刻画和其他工艺制备所需的全息板，该方法也可以达到很高的检测精度。

 

 

 

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如果提高检测，减小波长是很好的选择，但有时需要降低检测的灵敏性，如表面粗糙度不好，面形误差很大，这点从上图就可看出来。

采用长波段后，难度提高了，因为看不见，光路难调整，而且这个波段激光往往高功率，得小心眼睛：），不知道什么时候就反射到眼睛里，把眼睛黄斑烧个洞。呵呵！

图中的检测效果也不必非要用长波激光来实现，还有别的方法，利用单波段可见光范围完全可以实现长波段的效果。

 

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大动态范围测量还有莫尔条纹法，如上图。

 

 

哈特曼－肖克法是测量波前方向的，也可以实现大动态范围，还能保持一个波长以内的检测精度。核心元件是微透镜阵列，自适应光学中尤其有用。

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另外，非球面检测中也发展出了一些特殊的方法，上图中的切向剪切法就是，是波前自己与自己比较，可以看到干涉条纹直观上是慧差，其灵敏度随着剪切量而变化，越到边缘越不灵敏，这对于非球面检测不利。

 

 

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图中所示是径向剪切法，即进行了径向压缩，无论是径向剪切还是切向剪切，这实际上实现了一种算法，有其独特的应用！

总体上来讲，高精度的非球面光学检测主要分为零检测法（Null Test）和非零检测法（Non-Null test）。