Basic-Scan（优先使用）

速度极快，覆盖范围广，可进行全扫描

Fast-Sequential（如果有需要使用）

全扫描设计的覆盖范围更大；

适用于memory周围的阴影逻辑、有限的no--scan

Full-Sequential（最后使用）

强大的引擎支持更复杂的设计

run_atpg -auto自动执行最好的结果

二、降低AU fault，提高测试覆盖率

1、在basic scan后启动fast sequential

如果在Basic-Scan ATPG之后仍然存在AU故障，那么可启用fast sequential ATPG:

set_patterns  -histogram_summary

set_atpg  -capture_cycles       d设置为2-10之间的整数

run_atpg -auto

capture_cycles常用设置：

最优的runtime——set_atpg -capture_cycles 3
最优的覆盖率——set_atpg -capture_cycles 10
RAMs最小的设置—— set atpg -capture cycles 4

显示每个捕获深度的pattern数量以及multi-load pattern的数量

set_patterns  -histogram_summary

2、启动full dequential

set_atpg  -full_seq_atpg

run_atpg  -auto

或

run_atpg  -auto full_sequential_only

三、降低ND fault

ATPG尝试检测故障次数的限制，提高此限制可能会减少ND fault的数量——以较长的运行时间和较高的pattern计数为代价

在basic-scan和fast-sequential中，限制次数：

set_atpg  -abort （默认为10）

在full-sequential中，ATPG主要控制-full_seq_time，它指定每个故障花费的最长时间（以秒为单位）:

set_atpg  -full_seq_time （默认为10）

• 推荐逐渐增加abort limit

　　　run_atpg -auto
　　　set_atpg -abort 100
　　　run _atpg -auto
　　　set_atpg -abort 1000
　　　run_atpg -auto

四、Debug 较低的测试覆盖率

层次化报告测试覆盖率

便于定位哪个模块有问题

report_summaries——看哪类fault较多

report pi_constraints——查看约束是否合理，主要解决AU问题

report_clocks -verbose

lnvestigate DRC rule violations

report_faults

analyze_faults

提高测试覆盖率的方法：

• 无需更改设计

　　　增加abort limit——减少ND
　　　启用快速顺序和全顺序ATPG——减少AU
　　　创建TetraMAX memory模型——增加memory shodow logic测试覆盖率
　　　消除一些Pl约束 (eg.异步reset上的Pl约束导致覆盖率降低)
　　　使用analyst_faults

• 更改设计

　　　修复DRC违规
　　　add scan to non-scan cell——使用TMAX set_scan_ability进行假设分析
　　　添加测试点

引用：