天津大学韩家广教授团队及其合作单位在超表面全息研究方面取得了新进展，实现了基于全息超表面的宽带、快速、紧凑的偏振测量器件。研究成果在偏振相关的光谱测量、传感和通讯等领域具有应用前景。

偏振是光波的一个基本物理参数，代表了光波的矢量特性，决定了光与许多物质的相互作用方式。精确的测量光波的偏振态在偏振光谱、椭偏仪、传感、成像、通讯和量子信息探测方面有着重要的应用价值。一个完全偏振态，可由其包含的任意两个正交偏振分量间的振幅比a和相位差Δφ唯一且直接的决定。然而，实际中难以获得相位差信息导致很难实现直接的偏振测量。传统的偏振测量方法往往利用块状且精密的光学元件来改变或分解入射光偏振，通过一系列强度测量，来间接测量偏振。

超表面是二维的超材料，由超薄的亚波长人工微结构在界面上通过一定的排列方式组合而成，具有高效的光波调控特性。特别地，超表面能够在亚波长尺度内局域化地操控光波相位、振幅和偏振，使其在复杂波前调控方面具有重要的应用前景，其中最具代表性的应用之一是超表面全息。然而，大多数超表面全息的工作，主要集中在设计生成高质量、功能复杂的全息图像上，很少有将全息图像进一步用于实际的器件。

图 (a,b) 圆偏振相关全息超表面在左旋和右旋圆偏振光照射下的全息图示意；(c) 圆环相位差分布及偏振测量原理示意；(d) 加工的超表面SEM假色照片，与a和b相同，不同颜色代表针对不同圆偏振光起作用的结构；(e) 部分测量得到的通过水平偏振片的全息图像

  该团队成员提出了一种改进的Gerchberg–Saxton相位全息设计算法，采用Pancharatnam–Berry相位的复合相位控制方法，设计了一种圆偏振相关的全息超表面，可在圆偏振坐标基下，实现对入射光偏振的直接测量。

该全息超表面在左旋和右旋圆偏光入射下分别生成两个相反旋向圆偏光的图像：一种为一个圆环 + 位于圆环内部偏上的圆盘，另一种为一个圆环 + 位于圆环内部偏下的圆盘；两个图像的强度密度和产生效率相同；两个圆环互相重叠，但存在一个拓扑数为2的环形相位差分布。

当一束完全偏振光入射时，其包含的两个圆偏振分量会分别生成这两个图像，对于圆环区域，由于相位差分布的存在，不同角度的圆环区域会重新组合出不同的偏振态，通过分析这个偏振态变化，就可得到入射光包含的两个圆偏振分量间的相位差Δφ。

图像再通过一个线偏振片，然后对圆环上强度沿角向的变化分布进行傅里叶分析，即可获取相位差Δφ信息。除此之外，该相位差Δφ也可进一步配合角度盘，通过观察最大值或最小值的所在角度来直观和粗略地获取。而对于两个圆偏振分量间的振幅比a，可以通过测量圆环内部偏上和偏下的两个圆盘的强度值来简单获取。由此，便可根据测得的a和Δφ直接地分析出入射光的偏振态。另外，由于Pancharatnam–Berry相位的无色散特性，该全息超表面可以实现宽带的偏振测量。

为验证该方法的有效性，该团队及其合作者，在红外波段加工了基于金属条形结构的全息超表面样品，采用偏振片和波片（二分之一波片和四分之一波片）的组合来控制入射偏振，采用简易成像系统测量通过一个线偏振片后的超表面全息图像。实验发现，在多个波长处，根据测量图像分析得出的偏振态与根据模拟图像得到的偏振态、及理论入射偏振态的圆偏振相位差、斯托克斯参数均吻合较好，证明了该全息超表面可实现快速、宽带的偏振检测。

该基于超表面全息的新型偏振测量方法，仅需一次测量入射光产生的图像，即可分析出偏振态，具有测量速度快的优点。复合超表面全息采用逐行交错的设计方法，有效避免了光斑强度照射不均带来的测量误差。整个测量过程中的关键器件仅为一个超表面和一个偏振片，测量更为简单，可将偏振片集成在超表面基底另一侧，再整体集成到一个CCD上，实现紧凑的偏振测量器件。未来，可通过优化结构单元效率和全息图像，进一步增强偏振测量精度。该工作提出的设计方法，也可用于实现偏振编码的全息图像，在信息保密传输方面有着重要应用前景。

相关工作以Direct polarization measurement using a multiplexed Pancharatnam–Berry metahologram为题发表在Optica [6(9), 1190-1198, 2019]上。

天津大学青年教师张学迁为该工作的第一作者，并与韩家广教授同为该工作共同通讯作者。上海光源杨树敏，中国科学院光电技术研究所岳伟生研究员，南安普顿大学Eric Plum副教授，伯明翰大学Shuang Zhang教授，沙特阿卜杜拉国王科技大学Xixiang Zhang教授亦对该工作有重要贡献。

论文链接：https://www.osapublishing.org/optica/abstract.cfm?uri=optica-6-9-1190