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(2022-04-28 09:26:28)
标签：
aec-q100hastaec-q100uhstjedecjesd22-a110 |
分类： 产品测试 |
AEC-Q100案例之通用MCU偏压高加速应力试验HAST及无偏压高加速应力试验UHST
1.AEC-Q100
1.1 测试信息
样品数量:每批77颗，3批次；共231颗待测芯片(已经过预处理试验)
参考方法:JEDEC JESD22-A110
电源要求:设置电压偏置
测试温度:+130
测试湿度:85% RH
测试时间:96小时
测试确认:芯片功能/性能测试
合格判据:所有待测物应通过芯片功能/性能测试
1.2 设备与仪器
HAST加速老化测试箱
2.
2.1 测试信息
样品数量:每批77颗，3批次；共231颗待测芯片(已经过预处理试验)
参考方法:JEDEC JESD22-A110
电源要求:无偏置电压
测试温度:+130
测试湿度:85% RH
测试时间:96小时
测试确认:芯片功能/性能测试
合格判据:所有待测物应通过芯片功能/性能测试
2.2 设备与仪器
HAST加速老化测试箱
本文参考链接：AEC-Q100 HAST
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