EN50155-2017 13.4.4 节 轨道车辆上的电子产品 低温启动试验（Low temperature start-up test）标准分析 

考核被试品在低温环境下是否能正常启动。  

IEC 60068-2-1 (test Ad)。  

3 试验条件 

试验条件详见图 1，其中 T_TEST从表 1 中选取

图 1 低温启动试验曲线图  

表 1 低温启动试验（含高温启动）温度等级选择 

TTEST	OT1	OT2	OT3	OT4	OT5	OT6
	-25～55	-40～55	-25～70	-40～70	-25～85	-40～85
OT5 和 OT6 不能作为车辆温度要求的通用规范(例如，可用于半导体驱动单元(SDU)、内燃机控 制单元)。温度等级 OT1 和 OT2 应用于客舱和驾驶室。OT3 和 OT4 应用于的技术柜内的设备

a） 将进行性能检测后的被试品安装在低温试验箱内； 

b）以 1/min 的速率将箱内温度从常温降至 TTEST；

c） 保持至少 2h 使被试达到温度稳定； 

d）保持箱内温度不变，启动被试品使其工作，并进行性能检测； 

e） 使被试品停止工作，将箱内温度以 1/min 升至常温； 

f） 箱内常温保持至少 1h 后启动被试品使其工作，并进行性能检测。

结果要求：性能测试结果应满足等级 A 的要求。 

等级 A： 

在试验前和试验后，被试品应继续按预期操作。不允许出现性能下降或功能丢失。不允许更改实际操作状态或存储的数据。如果相关方同意，可以用最低性能水平代替正常的性能水平(所有功能都按规定工作) 。 

等级 B： 

在试验前和试验后，被试品应继续按预期操作。然而，试验期间，性能是允许下降的。不允许更改实际操作状态或存储的数据。  

等级 C： 

在试验期间，允许功能暂时丢失。被试品可以自动重启。正常性能应在规定的最大时间之内达到。在此之后，设备应保持以前的运行状态，并按预期工作。不允许丢失重要数据或手动重启或程序控制重启。在这种情况下，用户和供应商应协商并在用户手册中明确定义。在这种情况下，用户手册应在投标阶段提供给用户。 

注意，重要的存储数据依赖于应用程序，并在性能规范中声明。