AEC-Q102认证要做哪些项目?有哪些测试标准?
(2020-03-17 09:53:14)
标签:
aec-q102测试项目aec-q102测试标准aec-q102案例 |
分类: 产品测试 |
AEC-Q102测试项目及测试标准案例
序号
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试验项目
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缩写
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样品数/批
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批数
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测试方法
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附加条件
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备注
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1 | 应力试验前后光电参数测试 | TEST | 所有应力试验前后均进行测试 | 用户规范或产品规格书 | 在室温下测试AECQ102要求的相关光电参数 | 约900个样品; | |
2 | 预处理 | PC | SMD产品在WHTOL、TC、PTC试验前预处理 | JESD22-A113 | SMD产品在WHTOL1、WHTOL2、TC、PTC试验前预处理,需要记录条件参数MSL等级及回流最高温度 | ||
3 | 外观检查 | EV | 每项试验前后均进行测试,除DPA和尺寸测试 | JESD22-B101 | 产品外观检查(结构,标记,工艺) | 约900个样品; | |
4 | 参数验证 | PV | 25 | 3 | 用户规范或产品规格书 | 依据用户规范或产品规格书,测试产品光电参数 | 25×3=75个; |
5a | 高温工作寿命1 | HTOL1 | 26 | 3 | JESD22-A108 | 1、试验周期=1000小时; 2、温度=Tsolder达到最大; 3、电流=参照电流与Tj关系选择,使Tj=Tjmax; |
二选一,只计算一项的价格,如果器件无需降额则5a=5b; |
5b | 高温工作寿命2 | HTOL2 | 26 | 3 | JESD22-A108 | 1、试验周期=1000小时; 2、电流=最大额定电流; 3、温度=参照电流与Tj关系选择,使Tj=Tjmax; |
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5c | / | / | / | / | / | 不适用 | |
6a | 湿热工作寿命1 | WHTOL1 | 26 | 3 | JESD22-A101 | 1、试验前预处理; 2、试验周期=1000小时; 3、温度Tsolder=85,湿度=85%RH; 4、电流=参照电流与Tj关系选择,使Tj=Tjmax,30分钟 开/30分钟 关; |
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6b | 湿热工作寿命2 | WHTOL2 | 26 | 3 | JESD22-A101 | 1、试验前预处理; 2、试验周期=1000小时; 3、温度Tsolder=85,湿度=85%RH; 4、电流=规格书最小电流,由于贵司产品规格书没有定义最小电流,所以施加一个不使结温超过 3 K 的小电流; |
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6c | / | / | / | / | / | 不适用 | |
7 | 温度循环 | TC | 26 | 3 | JESD22-A104 | 1、试验前预处理; 2、试验周期=1000循环 ,最低停留时间为15分钟; 3、温度范围=-40~100 |
使用温冲箱或快速温变箱,普通温循箱达不到要求; |
8a | 功率温度循环 | PTC | 26 | 3 | JESD22-A105 | 1、试验前预处理; 2、试验周期=1000小时; 3、电流=参照电流与Tj关系选择,使Tj=Tjmax,5分钟 开/5分钟 关; 4、温度范围=-40~105。 |
使用快速温变箱,普通温循箱达不到要求; |
8b | / | / | / | / | / | 不适用 | |
9 | / | / | / | / | / | 不适用 | |
10a | 静电放电-人体模型 | HBM | 10 | 3 | ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 |
人体模式静电等级测试 | 约需3小时; |
10b | 静电放电-充电器件模型 | CDM | 10 | 3 | AEC Q101-005 | 芯片放电模型,按AECQ101-005规定样品太小可能需要用MM代替 | 约需3小时; |
11 | 破坏性物理分析 | DPA | 2/试验 | 1 | Appendix |
从以下试验中随机抽取2只进行分析: PTC, WHTOL, H2S, and FMG |
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12 | 物理尺寸测量 | PD | 10 | 3 | JESD22-B100 | 测试产品尺寸规格 | |
13 | / | / | / | / | / | 不适用 | |
14 | / | / | / | / | / | 不适用 | |
15 | 变频振动 | VVF | 10 | 3 | JEDEC JESD22-B103 |
等位移1.5mm,从20Hz到100Hz 加速度峰值200m/s2,从100Hz到2kHz 一个循环4分钟,每个方向扫4次一共扫12次,不足1小时按1小时计算 |
同批样品连续试验; |
16 | 机械冲击 | MS | JEDEC JESD22-B104 |
1500g's持续0.5ms,5次冲击,3个方向,共30次冲击 | |||
17 | / | / | / | / | / | 不适用 | |
18a | 耐焊接热 | RSH |
10 | 3 | JESD22-A113 J-STD-002 AEC-Q005 |
3次回流焊,标准J-STD-020 | |
18b | / | / | / | / | / | 不适用 | |
19 | 可焊性 | SD | 10 | 3 | J-STD-002 AEC-Q005 |
参照表2A |
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20 | 脉冲工作寿命 | PLT | 26 | 3 | JESD22-A108 | 1、试验周期=1000小时; 2、温度Tsolder=55; 3、电流=100mA,脉冲宽度100μs,占空比3%; |
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21 | 凝露 | DEW | 26 | 3 | JESD22-A100 | 1、试验周期=1008小时; 2、温度循环条件30-65,在65停留4-8小时,转换时间在2-4小时,RH=90-98%; 3、电流=规格书最低电流,由于贵司产品规格书没有定义最小电流,所以施加一个不使结温超过 3 K 的小电流; |
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22 | 硫化氢腐蚀 | H2S | 26 | 3 | IEC 60068-2-43 | 1、试验周期=336小时; 2、 温度=40,湿度=90% RH; 3、H2S浓度: 15 x 10-6; 4、测试后DPA; |
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23 | 混合气体腐蚀 | FMG | 26 | 3 | IEC 60068-2-60 Test method 4 | 1、试验周期=500 2、温度= 25,湿度=75% RH; 3、气体浓度: H2S : 10 x 10-9 SO2 : 200 x 10-9 NO2 : 200 x 10-9 Cl2 : 10 x 10-9 4、测试后DPA; |
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24 | 热阻 | TR | 10 | 1 | JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52 |
热阻测试 | |
25 | 绑线拉力 | WBP | 10 | 3 | MIL-STD-750-2 |
焊线拉力:Cpk>1.67 | |
26 | 绑线推力 | WBS | 10 | 3 | AEC |
焊球推力:Cpk>1.67 | |
27 | 芯片推力 | DS | 5 | 3 | MIL-STD-750-2 |
芯片推力 |
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28 | 晶须生长 | WG | 2 | 3 | AEC-Q005 |
只适用于引脚含锡的器件, |
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13632345742