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GJB4027A-2006_军用元器件破坏性物理分析_样品要求_测试项目

(2020-03-10 17:13:54)
标签:

gjb4027a-2006

军用元器件破坏性物理

军用元器件dpa

分类: 产品测试
GJB4027A-2006 军用元器件破坏性物理分析方法样本大小要求如下:
样本大小应满足DPA检验项目的需用量为前提。对于一般元器件,样本大小应为生产批总数的2%,但不少于5只也不多于10只;对于结构复杂的元器件,样本大小应为生产批总数的1%,但不少于2只也不多于5只;对于价格昂贵或批量很少的元器件,样本大小可适当减少,但应经机构批准后实施。有关机构包括:鉴定机构、采购机构或元器件使用方等。

GJB4027A-2006 军用元器件破坏性物理分析方法DPA的项目和顺序举例如下:
固体电解质钽电容器DPA的项目和顺序
顺序号
项目
1
外部目检
2
X射线检查
3
密封(对密封电容器)
4
内部目检
5
制样镜检
片式固体电解质钽电容器DPA的项目和顺序
顺序号
项目
1
外部目检
2
制样镜检
密封半导体集成电路的DPA项目和程序
顺序号
项目
1
外部目检
2
X射线检查
3
粒子碰撞噪声检测(PIND)
4
密封
5
内部气体成分分析
6
内部目检
7
键合强度
8
扫描电子显微镜(SEM)检查
9
剪切强度
塑封半导体集成电路的DPA项目和程序
顺序号
项目
1
外部目检
2
X射线检查
3
声学扫描显微镜检查
4
内部目检
5
键合强度
6
扫描电子显微镜(SEM)检查
7
玻璃钝化层完整性检查
本文参考链接:http://www.enrlb.com/Faq-80.html
 更多相关信息,欢迎咨询 广电计量 杜亚俊 13632345742

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