广电计量有高端绝缘电阻测试系统（SIR），有丰富的绝缘电阻劣化（离子迁移）评估经验。

样品名称：PCB板

检测项目：CAF（Conductive Anodic Filament）

检测方法：依据IPC-TM-650 2.6.25和委托单位要求，对样品进行CAF测试，在潮热条件（85，85％RH）静置96小时，然后对样品施 加100VDC的偏压，并持续1000小时，试验期间采用100VDC的测试电压监测指定位置的绝缘电阻值。

检测依据：IPC-TM-650 2.6.25 Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test:X-Y Axis

试验条件：IPC-TM-650 2.6.25）

潮热条件：85，85％RH；

偏压电压：100VDC，与测试电压极性相同；

测试电压：100VDC，加载时间60秒；

潮热静置时间：96小时，

潮热加电试验时间：1000小时，合计1096小时。

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