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用简单的方法验收电子元器件

(2011-01-16 13:02:38)
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杂谈

在中小公司中,电子元器件IQC往往是个软肋。原因是缺少电子元器件的检测仪器,手段和标准。即使在大公司中,由于电子零件的种类繁多,也不可能采用专用测量仪表测量的方法来验收电子器件。大公司一般通过合格供应商管理来排除劣质货源。但是中小公司由于在需求数量上无法达成议价优势,有时不得不从不确定的货源采购。因而电子元器件IQC又成为中小公司避免劣质货源的重要手段。

 

可以通过对来料包装和器件外观来判断器件的真假,也可以用制程准确度Ca和制程精密度Cp以及制程能力指数Cpk统计值来判断批次质量。具体的办法是用手头能获得的尽可能高精度的测量仪表比如万用表对一个固定观测量进行测量,比如对IC,可以测量电源对地的电阻值,计算Ca,Cp和Cpk,通过对比可靠货源和不明货源的这些统计值来鉴别。这个需要在IQC日常就积累每个批次的数据,通过对可靠货源的测量值来推算观察值的规格公差及规格中心值。

 

Cpk通常用来评价一个过程或者某个工艺流程。当工艺流程达到最佳时,产品的参数(公差)变动最小,而参数变动水平也反映了质量水平。如果零件是在控制不严格的情况下生产,各个参数的变化就比较大。比如,手工加工的零件,其尺寸公差变化就会比数控机床加工的大。而使用磨损也会改变参数,例如,半导体结电阻或电容值也会随使用状况或时间而变化。所以只要测量的精度能够检测这种变化,那么统计参数变动水平来区分出仿制品或拆机件是可行的。

 

CPK的计算方法参加百度百科:http://baike.baidu.com/view/239794.htm 

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