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湿膜光阻(LPI)之理论与实务

(2010-07-07 15:33:39)
标签:

杂谈

分类: PCB技术
 

一、细线与湿膜

      由于干膜光阻本身的平均厚度在1.0~1.5mil之间,即使封装用精密金属脚  架(Lead Frame,业界称导线架)之抗蚀刻者,其厚度也薄不到哪去而在  0.5~0.6mil(12-15μm)左右(单价自然贵了很多)。对水平输送蚀刻之上板面而 言,一定会造成细密线区的“水沟效应”(Puddle Effect,大面积时可译为水池  效应)。使得所喷射新鲜蚀刻液的强力水点,打不到待蚀的铜面,而且连空气中的“氧气”也被阻隔。蚀刻中“氧气”的角色,是协同药液将金属铜(CU0)氧化成可水溶的蓝色铜离子(Cu++),抽风正是氧气输送的重要管道,赶走臭味只是一般外行者所仅知的另一种用途而已。

    氧化力减弱蚀刻未辙底,将造成线底雨侧伸出之残足,成为细线工程的一大隐优。至于另一种半氧化中间态的Cu+亚铜离子则很难水溶,经常会附着在线路腰部流速不高冲刷较弱的侧壁上,此种效果却可当成意外的护岸剂(Banking Agent),使得不良侧蚀(Undercut,大陆称为掏蚀)也因而减低。

    为了降低水沟效应减少侧蚀兴残足等不良效果起见,4mil以下的细线应尽可能将待蚀刻的铜层逼薄,同时也还应将抗蚀阻剂的厚度降低。如此,除可避免积水而方便氧气进入外,还可加速新鲜药液更换的频率,有效的排除废铜液,迫使Z轴方向的扩散层(Diffusion layer)尽量薄化,以增快正蚀(下蚀)减缓侧掏,再往细线密距品质更好的境界努力。以减少后续离子迁移(Migration)绝缘不足的漏电(Dendrite)行为,而令讯号完整性的品质得以再形提升·

  图1. 水平输送中,垂直打击待蚀区的向下水箭,会在水沟效应中产生涡流造成侧蚀。但扩散层中所暂时出现的Cu+难溶物(黑色皮膜),却可在侧壁处当成护岸剂。一旦水沟淹满及新旧液的交换不易时,难免会妨碍沟底正蚀的进行。幸好水平行进朝下的板面,将不会发生水沟效应。

    湿膜光阻干燥后的平均厚度约为11μm(0.3mil),在水沟效应之不利方面还软干膜光阻为低。近年来在湿膜业者们对配方不断的努力下,其针孔,沾底片,沾板面,与解像(Resolution)不佳等缺失已逐渐改进。由于没有较厚的直立侧壁,故除了二次铜等“线路电镀”(Pattern Process)与盖孔制程之外层板场合无法施展外,其余各种传统内层板的酸性蚀刻均可派上用场。

二、光阻剂之分类

      光阻(Photo-Resist)可区分为“感光分解”式的正型(Positive-Working)光阻,与“感光聚合”式的负型(Negative Working)光阻两大类。其之所以如此称呼的原因,是与其在显像液中的溶解度(Solubility)有关。也就是当板子铜面上的光阻剂(干膜或湿膜),继底片贴合与曝光后,其已局部感光的阻剂区,若在后续显像液(Developing-Solution)中出现溶解度(Solubility)增加者(即表已遭到分解),其溶解度曲线会呈上升态势,故称之为正型:反之已感光之部分区域,若其溶解度反而下降时(即表已完成聚合),则称之为负型。电路板业几乎全数采用较便宜的负型干膜或湿膜光阻、半道体业则一律使用高单价品质更好的正型液态光阻。

  图2.光阻剂完成曝光后,在后续显像液中溶解度增加者称为正型光阻,溶解度降低者称为负型光阻。

    此等正负不同性质的两大类光阻剂,按其配方与感光反应的原理不同,又可再细分如下:

2.l负型自由基式光阻(Negative Free-Radical Resist)

      此类感光聚合(Photopolymarizing)式光阻其反应之进行,是首先由配方中的感光起始剂(Photoinitiator,简称为PI)所发动。当此物吸收到紫外光的能量后,本身立即分解成为“主要自由基”。随后配方中的光敏剂(Sensitizer,简称为ITX)也因吸收光能而裂解成为“转能自由基”(Energy Transfer),可将能量转给启始剂又再次形成额外的“主要自由基”。之后,主要自由基即分别与单体(Monomer)与中体(Oligomer)等进行交联(Crosslinkage)反应,而成为聚合体(Polymer),现以简式与示意图表达如下:

      图3.负型光型光阻剂中的单体或中体,与主要自由基进行交联反应后形成聚体(聚合物)之示意图

    实务上,阻剂配方业者都是购买大型化工公司之感光单体,再自行合成为中体后,才进行精密的商品配方作业。以下即为湿膜成线三大主要制程站之图标说明。

图4.以上三大站反应之示意图分别说明此为负型自由基式湿膜光阻(LPI)之曝光(Exposure)显像(Developing)及剥膜等机理(Mechanism)。本自由基类全树脂型的LPI,是目前垂直涂布与水平涂布量产线上的主流耗材物料

2.2负型阳离子式光阻剂(Negative Cationic Resist)

此系配方中含可感光成酸之“感光成酸剂”(Photo-Acid Generator,简称PAG感光后会产生H+)所形成的酸份会在阻剂形体内四处移动,并于加热情况中促使两种聚合物,各以其多处反应位点(Sites)进行交联。

现以三个反应式表达如下:

图5.上三式系在说明负型阳离子式光阻剂的反应过程。后二式中其含氮聚合物之分子中,共有六个氧原子都是反应基点之所在。

2.3正型DNQ式光阻剂

  此类湿膜光阻剂多用于半导体晶圆之制造,其阻剂成分中含有可感光而产生活性的化合物(Photoactive Compound;PAC),是一种称为DNQ(Diazo-Naptho-Quinone)的有机化合物,再搭配酚醛类(Novolac)式黏结剂(Binder),即可进行局部区域之感光分解反应。未感光不分解者将成为局部性阻剂。由于这些精致化学品的价格很高,故只能用于获利较多的半导体产业。

事实上碱性显像液(Developer)对酚醛类而言,原本就具有少许程度的溶解度,但经混入了DNQ之后却几乎不再溶解。不过当局部感光区域再受到紫外光能量的刺激后,却又可全部溶解于碱性显像液中。所留下未感光不分解的部分,则仍附着于晶圆上被当成阻剂。下两图即说明其解像过程。

图6.左为具光活性有机物DNQ之感光反应;右为DNQ再加上酚醛后虽使其溶解度暂行降低,但感光反应后溶解度却反而增大。箭头所指者即为该正型光阻之分解过程。

2.4正型阳离子式光阻剂(Positive Cationic Resist)

由于上述正型DNQ式光阻剂,对远紫外光(Deep UV:DUV)区域的感光速度不够快也不够敏锐,因而在阻剂的配方中又加入了一种“感光成酸剂”(PAG)。使原本在碱液中稍具溶解度的酚醛类(Novolac),会受到PAG感光所产生酸类的另一种拉脱(Deblocking)作用后,会使得溶解度变得更低,进而成为可靠度更好的阻剂。目前最现代化的IC晶圆片制造业,已逐渐开始使用此种新型阻剂,以下即为此种正型光阻的感光分解过程。

图7.左为感光成酸剂产生酸(H+,即阳离子)后,即可将酚醛分子中之CO2予以拉脱,而成为右图中更具正型性质光阻剂的变化过程。

此处所称的阳离子“解套”作用,是指感光分解中的H+,可将酚醛结构内妨碍碱性水溶的抑制端(Inhitor)予以排除之谓。使已遭到感光分解的皮膜其水溶解像品质会更好,以上二图即说明此种反应的过程。

图8.左上图为解像后之Shiply负型湿膜光阻,其幅宽仅2mil;右上为直径2mil之人类毛发;左下为幅宽1μm之人类染色体(Chromosome)画面,右下为Shiply之DUV微型光阻(Micro Resist),幅宽仅0.25μm(0.01mil或10μin)而己。

三、湿膜光阻评选之重点

负型湿膜光阻(LPI)是否能在内层细线工程中发挥功用,是否能与干膜前辈在PCB市场中一较长短,则端视其各方面的表现如何。以下即就生产线中几项重要的条件做一些检讨。

3.1物料成本

正型光阻由于含有价格很贵的感光活性化合物(PAC),且又占了阻剂中的大部分组成,致使正型光阻的成本高居不下,而令PCB业不敢奢想,只能用于高单价的半导体业界。

正型光阻中最便宜者是一种铬化酪蛋白(Chromated Casein),而且是一种水溶性的感光物质,早期曾用于单面板直接网版的制作中,但因解像品质不佳料龄短促,加以铬素对生态与环保都不好,已渐被放弃。

    负型干膜光阻(D/F)的单价,十几年来已一路降价了近十倍,目前PCB用阻剂1.5mil厚者之行情价在N.T.3元/ft2左右,1.3mil厚者在2.8元/ ft2左右。Lead Frame导线架业所用厚度0.6mil(15μm)者,行情价在4.5元/ ft2上下,其中PET盖膜(或载膜)也已薄到0.6mil之极限。至于0.5mil甚至10μm等干膜,其单价都不是PCB业者之所敢问津。然而不管D/F如何控制成本或降价,其高达1/3成本的PET盖膜与PE隔膜总是少不了的。此等辅料之于干膜制程前,虽然是不可或缺的必需品,制程后却成了还要额外花钱的头痛垃圾!

    负型LPI单面涂布干燥厚度11μm者,其物料行情价约在0.8-1.0元/ ft2,不及干膜的1/3。树脂型每公斤N.T.400元至少可涂布360 ft2,其它显像与废水处理费用则与D/F相去不多。不过LPI操作的机动性,又要比幅宽呆板的D/F灵活得很多。至于低阶空网印刷用之填充剂型(Filler Type)湿膜,其单价则与树脂相差有限,但操作成本却可更低。这就是广东地区PCB业者对四层板流血报价4.5¢/in2的原因之一。穿皮鞋的如何能跟穿草鞋或不穿勤者,去打拚争生存呢!

3.2工作环境

    下表1中所列的各种性能皆出自于最佳的生产环境,以正型酪蛋白为例,虽然价格便宜,但因受到湿度与温度的影响很大,故必须对作业环境的温度变化严加管理,否则会在感光速度(Photospeed)上出现很大的变化。至于PCB业界最常用的“负型自由基”感光过程之干膜,则对氧气非常敏感。必须在曝光之前先在光阻层的表面贴附透明盖膜(如Mylar,此物亦做为阻剂涂布时的载膜),以隔绝氧气的负面作用,避免干扰到感光聚合反应的进行。至于此型之液态光阻(LPI)由于无法使用盖膜,故必还于配方中另行加入抗氧化剂(Oxygen Scaveners)以减少氧气的杯葛。但也使得光敏度比起干膜来差了一截,而不得不在曝光时采用较大的能量与贴紧底片加强抽气;以争取聚合反应的时间与减少氧气的干涉!

    不过LPI与D/F一样,其涂布段亦必须装置在无尘环境中,后段无尘烤箱也不可马虎。接着暂存的“靠叠”与曝光作业仍然是少不了无尘室。这方面的投资比起低阶空网印刷之LPI自然草率不得!幸好LPI厚度甚薄而不必用到昂贵的平行光源,长期做活下来也不无小补。

3.3操作成本

湿膜在现场操作成本又与施工方式及设备有关,以下表1.就将各种加工方式、膜厚分布、性能、成等做一比较。

上列LPI各种加工方法中,目前只剩下滚涂(Roller Coating)在台湾与大陆的量产自动线中存活过来,其它几乎都只停留在实验室的领域。滚涂自动联机机组又分为水平及垂直两种输送方式,两者国产机的市价都在N.T.600万左右。操作品质丝毫不差,而价格却只有舶来品的一半。水平滚涂的产能每天三班约在9000片(24”×24” )左右,比起垂直线约多出10%,但后者除了能涂布LPI以外,另在Solder Mask与Dielectrics方面还可大显身手。

若另就曝光品质比较时,D/F在盖膜绝氧下之光敏性较好,其所需能量可低至35mj/cm2,在5KW平行光曝光机中仅5到6秒即大功告成。无盖膜的LPI光敏性虽然不如D/F,但也已从180mj/cm2进步到了130mj/cm2,于7KW立廉价的非平行光中,6秒钟照样可以办妥聚合反应。11μm厚度的LPI比起33μm的D/F当然又会争回一些曝光时间,而且别忘了平行光成本的高出!

细线干膜所用平行光曝光机之5KW灯管,一支6万台币可耐800小时。但湿膜所用散射光之5KW灯管一支800小时却不到1万元,而且机器本身与维修等之价差也相当可观!

3.4阻剂之安定性

液态光阻在仓库中的储龄(Shelf Life),与生产上已调配妥当后施工中的料龄(Pot Life)也都是考虑的重点。一般商品储龄须在6个月以上,而料龄则也需耐过一周。不过便宜的酪蛋白光阻剂的料龄却只有一两天而已。

http://www.ektpcb.cn

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